数字隔离器结构分析技术研究

作者:徐昕; 陈品君; 邝栗山; 刘路扬

摘要:国产化替代的元器件,由于设计、结构、材料和工艺无法保证与进口元器件完全一致,这些方面的差异会直接影响元器件的固有可靠性,而通过结构分析技术,则可以在元器件设计环节准确的识别出这些潜在问题和缺陷。本文以进口ADUM1400和国产GL1400P数字隔离器为对象进行了结构分析,发现了相关影响可靠性的因素。

分类:
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收录:
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关键词:
  • 数字隔离器
  • 结构分析
  • 耦合线圈

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期刊名称:电子测试

期刊级别:省级期刊

期刊人气:11034

杂志介绍:
主管单位:北京市科学技术研究院
主办单位:北京自动测试技术研究所
出版地方:北京
快捷分类:工业
国际刊号:1000-8519
国内刊号:11-3927/TN
邮发代号:82-870
创刊时间:1994
发行周期:半月刊
期刊开本:A4
下单时间:1个月内
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综合影响因子:0.52