民用飞机单粒子翻转问题研究
作者：唐志帅; 王延刚; 刘兴华
摘要：单粒子翻转（Single Event Upset,SEU）效应是机载复杂电子硬件设计所必须考虑的重要问题,对SEU效应进行了描述,分析了复杂电子设备经常用到的芯片类型（专用集成电路器件、反熔丝FPGA、SRAM型FPGA、Flash型FPGA）及其优缺点,总结了三模冗余、纠错码、擦洗、系统监控这四种常见的SEU减缓技术,对于国内民机机载复杂电子硬件的设计具有参考意义。
分类：
- 期刊
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- 自然科学与工程技术
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- 工程科技II
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- 电力工业
收录：
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关键词：
- 单粒子翻转
- 专用集成电路器件
- 现场可编程门阵列
- 三模冗余
- 复杂电子硬件
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