基于存储式测试技术的虚拟逻辑分析系统设计

作者:闫鑫 张丕状 周学威 李士林 杨海

摘要:针对采用引线式测试法进行武器系统参数测试时存在测试装置数字电路逻辑信息无法实时获取的问题,根据存储式测试方法,利用LabVIEW编程软件、NandFlash技术为软硬件平台,构建用于逻辑信息获取与处理的虚拟逻辑分析系统;实验结果表明,该系统能够同步、高效、低误差地实现对32通道的逻辑信息的获取、分析与处理,进而完成在高温、高冲击、高压恶劣环境中测试装置的监控与故障诊断。

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关键词:
  • 存储测试
  • nandflash
  • 逻辑分析
  • 虚拟仪器

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期刊名称:计算机测量与控制

期刊级别:统计源期刊

期刊人气:11106

杂志介绍:
主管单位:中国航天科工集团公司
主办单位:中国计算机自动测量与控制技术协会
出版地方:北京
快捷分类:计算机
国际刊号:1671-4598
国内刊号:11-4762/TP
邮发代号:82-16
创刊时间:1993
发行周期:月刊
期刊开本:A4
下单时间:1-3个月
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综合影响因子:1