《Ieee Design & Test》杂志影响因子：2。
期刊Ieee Design & Test近年评价数据趋势图
期刊影响因子趋势图
以下是一些常见的影响因子查询入口：
（1）Web of Science：是查询SCI期刊影响因子的权威平台，收录全球高质量学术期刊，提供详细的期刊引证报告，包括影响因子、分区、被引频次等关键指标。
（2）Journal Citation Reports (JCR)：JCR是科睿唯安旗下的一个网站，提供了期刊影响因子、引用数据和相关指标。用户可以在该网站上查找特定期刊的影响因子信息。
（3）中科院SCI期刊分区表：提供中科院分区的期刊数据查询，包括影响因子和分区信息。
《Ieee Design & Test》杂志是由IEEE Computer Society出版社主办的一本以COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE-ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC为研究方向，OA非开放（Not Open Access）的国际优秀期刊。
该杂志出版语言为English，创刊于2013年。自创刊以来，已被SCI（科学引文索引）、SCIE（科学引文索引扩展版）等国内外知名检索系统收录。该杂志发表了高质量的论文，重点介绍了计算机硬件在分析和实践中的理论、研究和应用。
学术地位：在JCR分区中位列Q3区，中科院分区为计算机科学大类4区，COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE计算机：硬件小类4区。
期刊发文分析
期刊引用数据次数统计
| 期刊引用数据 | 引用次数 |
| IEEE T COMPUT AID D | 27 |
| IEEE J SOLID-ST CIRC | 21 |
| NATURE | 20 |
| IEEE T VLSI SYST | 19 |
| IEEE T CIRCUITS-I | 17 |
| PHYS REV LETT | 17 |
| IEEE DES TEST | 16 |
| NAT COMMUN | 16 |
| P IEEE | 14 |
| IEEE COMMUN SURV TUT | 11 |
期刊被引用数据次数统计
| 期刊被引用数据 | 引用次数 |
| IEEE ACCESS | 57 |
| IEEE T COMPUT AID D | 52 |
| IEEE T VLSI SYST | 38 |
| INTEGRATION | 35 |
| J ELECTRON TEST | 29 |
| ACM T DES AUTOMAT EL | 25 |
| IEEE T COMPUT | 21 |
| IEEE DES TEST | 16 |
| IEEE T CIRCUITS-I | 15 |
| MICROPROCESS MICROSY | 15 |
文章引用数据次数统计
| 文章引用数据 | 引用次数 |
| Edge Intelligence-On the Challenging Road ... | 8 |
| ZeNA: Zero-Aware Neural Network Accelerato... | 7 |
| Context-Aware Intelligence in Resource Con... | 7 |
| Hierarchical Electric Vehicle Charging Agg... | 7 |
| A Survey on Security Threats and Counterme... | 6 |
| Survey of Automotive Controller Area Netwo... | 5 |
| Voltage-Driven Building Block for Hardware... | 5 |
| Quantum Computing Circuits and Devices | 5 |
| Design-for-Testability of On-Chip Control ... | 5 |
| CPU-FPGA Coscheduling for Big Data Applica... | 4 |
