《Ieee Design & Test》杂志属于计算机科学领域的计算机：硬件学科。
以下是对其的详细介绍：
基本信息
创刊时间：2013年
出版商：IEEE Computer Society
出版周期：6 issues/year
ISSN：2168-2356；E-ISSN：2168-2364
学科领域与影响力
主要学科：《Ieee Design & Test》杂志专注于计算机科学-计算机硬件领域，提供计算机：硬件的关键概念进行最新的概括介绍。
影响因子：该杂志的最新影响因子为2，显示其学术水平和影响力，虽然具体数值会随时间变化。
期刊Ieee Design & Test近年评价数据趋势图
期刊影响因子趋势图
学科分区：中科院SCI期刊分区，《Ieee Design & Test》杂志在大类学科计算机科学位于4区，小类学科COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE计算机：硬件位于4区。期刊WOS(JCR)分区中，它位于的计算机硬件的Q3区，显示出其在该领域的领先地位。
期刊WOS(JCR)分区
2025-2026年最新版
| 按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q3 | 42 / 60 |
30.8 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 243 / 369 |
34.3 |
| 学科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q3 | 45 / 61 |
27.05 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 226 / 371 |
39.22 |
2023-2024年最新版
| 按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q3 | 42 / 59 |
29.7 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 211 / 352 |
40.2 |
| 学科：COMPUTER SCIENCE, HARDWARE & ARCHITECTURE | SCIE | Q3 | 40 / 59 |
33.05 |
| 学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q3 | 217 / 354 |
38.84 |
WOS(JCR)分区是由科睿唯安公司提出的一种新的期刊评价指标，分区越靠前一般代表期刊质量越好，发文难度也越高。这种分级体系有助于科研人员快速了解各个期刊的影响力和地位。JCR将所有期刊按照各个学科领域进行分类，然后以影响因子为标准平均分为四个等级：Q1、Q2、Q3和Q4区。这种设计使得科研人员可以更容易地进行跨学科比较。
编辑部将对所有投稿进行严格的同行评审，以确保发表的文章具有较高的学术价值和实用性。
值得一提的是，Ieee Design & Test近期并未被列入国际期刊预警名单，这意味着其学术质量和影响力得到了广泛认可。该期刊为计算机科学领域的学者提供了一个优质的学术交流平台。因此，关注并投稿至Ieee Design & Test无疑是一个明智的选择，这将有助于提升您的学术声誉和研究成果的传播。
