上海微技术工研院牵手美国国家仪器引领国内射频及微波芯片测试技术研发

摘要：2016年1月18日，中国上海徽技术工业研究院（SITRI）作为致力于“超越摩尔”半导体技术及物联网应用研发和产业化的协同创新中心，宣布与美国国家仪器公司（National Instruments，简称N1）签署合作，联合成立“射频及微波芯片（RFIC／MMIC）测试技术联合实验室”，通过与在该领域测试技术拥有深厚积淀的NI合作，进一步提升上海微技术工研院的研发能力，引领我国RFIC／MMIC测试技术迈向国际化水平。

简介：《自动化博览》杂志在全国影响力巨大，创刊于1983年，公开发行的月刊杂志。创刊以来，办刊质量和水平不断提高，主要栏目设置有：资讯BBS、本期策划、自动化人、专题策划、热点论坛、技术纵横、品牌之路与中国市场、企业之窗等。