《Infrared Physics & Technology》杂志属于物理与天体物理领域的仪器仪表学科。
以下是对其的详细介绍：
基本信息
创刊时间：1994年
出版商：Elsevier
出版周期：Bimonthly
ISSN：1350-4495；E-ISSN：1879-0275
学科领域与影响力
主要学科：《Infrared Physics & Technology》杂志专注于物理与天体物理-INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION领域，提供仪器仪表的关键概念进行最新的概括介绍。
影响因子：该杂志的最新影响因子为3.1，显示其学术水平和影响力，虽然具体数值会随时间变化。
期刊Infrared Physics & Technology近年评价数据趋势图
期刊影响因子趋势图
学科分区：中科院SCI期刊分区，《Infrared Physics & Technology》杂志在大类学科物理与天体物理位于3区，小类学科INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION仪器仪表位于3区。期刊WOS(JCR)分区中，它位于的INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION的Q2区，显示出其在该领域的领先地位。
期刊WOS(JCR)分区（2023-2024年最新版）
| 按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 25 / 76 |
67.8% |
| 学科：OPTICS | SCIE | Q2 | 37 / 119 |
69.3% |
| 学科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 63 / 179 |
65.1% |
| 按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
| 学科：INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q2 | 24 / 76 |
69.08% |
| 学科：OPTICS | SCIE | Q2 | 43 / 120 |
64.58% |
| 学科：PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 55 / 179 |
69.55% |
WOS(JCR)分区是由科睿唯安公司提出的一种新的期刊评价指标，分区越靠前一般代表期刊质量越好，发文难度也越高。这种分级体系有助于科研人员快速了解各个期刊的影响力和地位。JCR将所有期刊按照各个学科领域进行分类，然后以影响因子为标准平均分为四个等级：Q1、Q2、Q3和Q4区。这种设计使得科研人员可以更容易地进行跨学科比较。
为了保证期刊的质量，审稿周期预计为 约3.0个月 约8.1周。在此期间，编辑部将对所有投稿进行严格的同行评审，以确保发表的文章具有较高的学术价值和实用性。
值得一提的是，Infrared Physics & Technology近期并未被列入国际期刊预警名单，这意味着其学术质量和影响力得到了广泛认可。该期刊为物理与天体物理领域的学者提供了一个优质的学术交流平台。因此，关注并投稿至Infrared Physics & Technology无疑是一个明智的选择，这将有助于提升您的学术声誉和研究成果的传播。
