晶体硅组件电致光（EL）检测应用及缺陷分析

摘要：面对日益严重的生态环境和传统能源短缺等危机,光伏组件制造行业迅猛发展,光伏组件质量控制环节中测试手段的不断增强,原来的外观和电性能测试已经远远不能满足行业的需求。目前一种可以测试晶体硅太阳电池及组件潜在缺陷的方法为行业内广泛采用,文章基于电致发光（Electroluminescence）的理论,介绍利用近红外检测方法,可以检测出晶体硅太阳电池及组件中常见的隐性缺陷。主要包括：隐裂、黑心片、花片、断栅、短路等组件缺陷,同时结合组件测试过程中发现的缺陷对造成的原因加以分析总结。

简介：《科技创新与应用》杂志在全国影响力巨大，创刊于2011年，公开发行的旬刊杂志。创刊以来，办刊质量和水平不断提高，主要栏目设置有：创新前沿、众创空间、研究视界、设计创新、工艺创新、方法创新、技术创新、应用科技、科技管理等。