是德科技推出高性能PAM4误码仪及100GHz采样示波器模块

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摘要:是德科技在2017年Designcon展示针对400G/PAM-4设计的最新测试和测量技术,包括高度综合的M8040A64Gbaud高性能比特误码率测试仪、新数据分析软件功能,100GHz带宽的采样示波器模块,现这一系列产品已正式推出。

分类:
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  • 统计源期刊(中国科技论文优秀期刊)
  • JST 日本科学技术振兴机构数据库(日)
关键词:
  • 采样示波器
  • 模块
  • 性能
  • 科技
  • 误码仪
  • 比特误码率
  • 测量技术
  • 软件功能

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

期刊名称:国外电子测量技术

期刊级别:北大期刊

期刊人气:4106

杂志介绍:
主管单位:中华人民共和国信息产业部
主办单位:北京方略信息科技有限公司
出版地方:北京
快捷分类:电子
国际刊号:1002-8978
国内刊号:11-2268/TN
邮发代号:82-141
创刊时间:1982
发行周期:月刊
期刊开本:A4
下单时间:1-3个月
复合影响因子:1.06
综合影响因子:1.52