摘要:德科技在2017年Design con展示针对400G/PAM-4设计的最新测试和测量技术,包括高度综合的M8040A64 Gbaud高性能比特误码率测试仪、新数据分析软件功能,100 GHz带宽的采样示波器模块,现这一系列产品已正式推出。M8040A高性能PAM4误码仪其中Keysight M8040A是一款高度综合的比特误码率测试仪,适用于物理层表征和一致性测试它支持PAM-4和NRZ信号。
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期刊名称:电子测量与仪器学报
期刊级别:北大期刊
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