是德科技推出高性能PAM4误码仪及100 GHz采样示波器模块

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摘要:德科技在2017年Design con展示针对400G/PAM-4设计的最新测试和测量技术,包括高度综合的M8040A64 Gbaud高性能比特误码率测试仪、新数据分析软件功能,100 GHz带宽的采样示波器模块,现这一系列产品已正式推出。M8040A高性能PAM4误码仪其中Keysight M8040A是一款高度综合的比特误码率测试仪,适用于物理层表征和一致性测试它支持PAM-4和NRZ信号。

分类:
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关键词:
  • 采样示波器
  • 误码仪
  • ghz
  • 性能
  • 科技
  • 模块
  • 比特误码率
  • 一致性测试

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

期刊名称:电子测量与仪器学报

期刊级别:北大期刊

期刊人气:2374

杂志介绍:
主管单位:中国科学技术协会
主办单位:中国电子学会
出版地方:北京
快捷分类:电子
国际刊号:1000-7105
国内刊号:11-2488/TN
邮发代号:
创刊时间:1987
发行周期:月刊
期刊开本:A4
下单时间:1-3个月
复合影响因子:2.03
综合影响因子:2.58