是德科技推出高性能PAM4误码仪及100GHz采样示波器模块

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摘要:2017年2月23日,北京——是德科技在2017年Design con展示针对400G/PAM-4设计的最新测试和测量技术,包括高度综合的M8040A64Gbaud高性能比特误码率测试仪、新数据分析软件功能,100GHz带宽的采样示波器模块,现这一系列产品已正式推出。

分类:
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  • 统计源期刊(中国科技论文优秀期刊)
  • JST 日本科学技术振兴机构数据库(日)
关键词:
  • 采样示波器
  • 模块
  • 性能
  • 科技
  • 误码仪
  • 比特误码率
  • 测量技术
  • 软件功能

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

期刊名称:电子测量技术

期刊级别:北大期刊

期刊人气:2867

杂志介绍:
主管单位:北京电子控股有限责任公司
主办单位:北京无线电技术研究所
出版地方:北京
快捷分类:电子
国际刊号:1002-7300
国内刊号:11-2175/TN
邮发代号:
创刊时间:1977
发行周期:半月刊
期刊开本:A4
下单时间:1-3个月
复合影响因子:1.01
综合影响因子:1.08