软硬件协同设计的SEU故障注入技术研究

作者:王晶; 荣金叶; 周继芹; 于航; 申娇; 张伟功

摘要:针对现有容错计算机故障注入方法缺乏对空间环境中频发的单粒子故障模型的支持,本文提出了一种利用背板技术的软硬件协同仿真与故障注入技术,分别针对寄存器部件和存储器部件的特性,设计了多位错误的单粒子故障模型,在寄存器传输级实现了通过软件生成故障并注入到硬件设计中的软硬件协同故障注入方案,避免了在硬件设计中修改代码生成故障破坏系统完整性的问题.基于Leon2内核的故障注入实验表明,本文设计的平台为处理器容错设计提供了一个自动化、非侵入、低开销的故障注入和可靠性评估方案.

分类:
  • 期刊
  • >
  • 自然科学与工程技术
  • >
  • 信息科技
  • >
  • 无线电电子学
收录:
  • 国家图书馆馆藏
  • 万方收录(中)
  • CSCD 中国科学引文数据库来源期刊(含扩展版)
  • JST 日本科学技术振兴机构数据库(日)
  • 北大期刊(中国人文社会科学期刊)
  • CA 化学文摘(美)
  • 知网收录(中)
  • 上海图书馆馆藏
  • 维普收录(中)
  • EI 工程索引(美)
  • 统计源期刊(中国科技论文优秀期刊)
关键词:
  • 容错
  • 故障注入
  • 软硬件协同
  • 单粒子翻转
  • 微处理器
  • 寄存器传输级

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

期刊名称:电子学报

期刊级别:北大期刊

期刊人气:2005

杂志介绍:
主管单位:中国科学技术协会
主办单位:中国电子学会
出版地方:北京
快捷分类:电力
国际刊号:0372-2112
国内刊号:11-2087/TN
邮发代号:2-891
创刊时间:1962
发行周期:月刊
期刊开本:A4
下单时间:1-3个月
复合影响因子:1.24
综合影响因子:1.51