摘要：在303~393K温度范围内,采用变温傅里叶变换衰减全反射红外光谱（ATR-FTIR）技术分别测定硅氧树脂的一维红外光谱、二阶导数红外光谱和四阶导数红外光谱。研究发现,在1800~600cm-1范围内,聚硅氧树脂主要存在着CH3伸缩振动模式（νCH3）、CH3变形振动模式（δCH3）、CH3摇摆振动模式（ρCH3）、Si-O伸缩振动模式（νSi-O）和Si-C伸缩振动模式（νSi-C）。在1100~1000cm-1范围内,以νSi-O为研究对象,研究了温度对硅氧树脂分子结构的影响。实验发现,随着测定温度的升高,硅氧树脂νSi-O的主要红外吸收频率出现了明显的红移现象。进一步研究了硅氧树脂νSi-O的二维红外光谱,考查温度对于νSi-O红外吸收强度的影响。研究发现,随着测定温度的升高,硅氧树脂νSi-O红外吸收强度的变化快慢顺序为：1024cm-1〉1096cm-1〉1010cm-1〉1076cm-1〉1083cm-1〉1064cm-1。本研究拓展了ATR-FTIR技术在硅氧树脂材料热变性方面的研究范围。