粉末压片制样-X射线荧光光谱(XRF)法测定钛铁矿中TFe、TiO 2、SiO 2、Al 2 O 3、CaO、MgO的含量
作者：卜兆杰; 王晓旋; 黄健强; 陶泽秀; 寇德翔
摘要：以粉末压片法制样，采用X射线荧光光谱(XRF)法测定钛铁矿中TFe、TiO 2、SiO 2、Al 2 O 3、CaO、MgO的含量。对样品的矿物效应、样品粒度、分析谱线等条件进行优化。利用不同产地的质控样品制作工作曲线，验证矿物效应影响不大；通过样品粒度小于74μm，很好地解决了颗粒粒度效应的影响。精密度实验表明，待测组分的相对标准偏差均低于3.6%(RSD，n=10)，能满足钛铁矿中各组分的测定要求。
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关键词：
- 快速分析
- 粉末压片
- 钛铁矿
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