X射线荧光光谱法测定萤石中CaF2、CaCO3、S、Fe及SiO2
作者：卜兆杰; 王晓旋; 黄健强; 谈昭君
摘要：X射线荧光光谱法分析是目前快速分析方法之一,精密度受基体效应、均匀性、元素间干扰等影响。采用粉末压片法制备样品,用X射线荧光光谱法直接测定F、Ca元素,得出CaF2及CaCO3含量,并同时分析萤石中S、Fe、SiO2的含量。精密度实验表明,待测元素的相对标准偏差均低于0.66%（RSD,n=10）,能满足萤石中各元素的检测要求。
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关键词：
- 萤石
- 氟元素
- 粉末压片法
- x射线荧光光谱法
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