摘要:采用磁控溅射法镀制ZnO薄膜,通过椭偏仪和四探钎测试仪分析了氧气浓度对薄膜光电性能的影响。结果表明:随着氧分压的增加,薄膜折射率呈变大的趋势,电阻率升高,导电性能降低。
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期刊名称:中国科技信息
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