SRAM型FPGA SEU缓解与验证技术分析
作者：郑丹; 胡胜旺; 封亮; 崔红军
摘要：SRAM型FPGA产品在空间应用中易受单粒子翻转(SEU)影响而产生系统失效。分析了FPGA器件SEU的故障模式,并结合工程实践对三模冗余(TMR)技术、纠错编码(EDAC)技术、配置刷新技术三类FPGA单粒子效应缓解措施和基于故障注入的验证手段进行了研究和比较分析,阐述了不同技术的适用范围和优缺点,给从事空间应用系统的设计和测试人员提供参考。
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关键词：
- fpga
- 单粒子翻转
- 验证
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