计算机与数字工程杂志社
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计算机与数字工程杂志

《计算机与数字工程》杂志在全国影响力巨大,创刊于1973年,公开发行的月刊杂志。创刊以来,办刊质量和水平不断提高,主要栏目设置有:算法与分析、系统结构、信息网络安全、图像处理、工程实践等。
  • 主管单位:中国船舶重工集团公司
  • 主办单位:中船重工集团公司七院第七0九研究所
  • 国际刊号:1672-9722
  • 国内刊号:42-1372/TP
  • 出版地方:湖北
  • 邮发代号:
  • 创刊时间:1973
  • 发行周期:月刊
  • 期刊开本:A4
  • 复合影响因子:0.35
  • 综合影响因子:0.233
期刊级别: 统计源期刊
相关期刊
服务介绍

计算机与数字工程 2015年第01期杂志 文档列表

计算机与数字工程杂志校准原理与方法

电学法热阻测试仪校准方法研究

摘要:论文分析了电学法热阻测试仪的工作原理及测量过程,明确了测量过程中各个电、热参数对热阻测试结果的作用和意义。由热阻的基本定义出发,推导出了各种电热参数与热阻之间的测量模型,选择K系数测量电流的短期稳定性,电压测量值,加热电流和加热电压,加热平台温度,参考位置温度为主要校准参数。从整体校准的角度,给出了校准方法,分析了各种影响量引入的测量不确定度,给出了最终测量不确定度评定过程。为实现电学法热阻测试仪的整体校准奠定了基础。
1-3

高精度噪声系数测量系统整体校准方法研究

摘要:利用"源端失配误差修正的冷噪声测量技术"的高精度噪声系数测量系统问世以来,得到了噪声测试工程师的广泛认可,其主要特点是在系统自校准和测量两个环节中,都使用了一个阻抗调配器呈现不同(4~7个)源阻抗状态,从而降低甚至消除测量过程中的源端失配误差,提高了噪声系数测量精度。这种崭新的测量系统给计量工作带来了困扰,主要原因是测量系统组成更加复杂,测量技术考虑失配因素,测量模型技术保密等。论文提出一种全新的整体校准方案,建立了校准模型,通过实际案例分析证实基本解决了该校准难题。
4-6

电子元器件可焊性测试仪校准方法研究

摘要:可焊性测试仪是电子元器件在生产过程中、筛选复验和装机前进行可焊性测试的仪器,其技术指标包括温度、润湿力、浸渍深度、速率和时间论文依据相关国家检定规范,通过实践研究,实现了可焊性测试仪这些技术指标的校准。
7-9

混合集成电路测试系统校准装置架构设计

摘要:为了实现针对混合集成电路测试系统的校准,论文详细分析了混合集成电路测试系统参量及各参量的校准原理,并提出了混合集成电路测试系统校准装置架构设计的方案。该设计方案具备一定的创新性,可以实现校准装置的通用性、便携性以及校准过程的自动化。
10-13

一种数字集成电路标准样片的设计实现

摘要:标准样片是实现微电子量值溯源和传递的良好途径,论文着重于通过电路设计实现对数字集成电路参数的模拟,并对标准样片测量不确定度评估展开了相应的研究,用以提升标准样片参数的可编程性和量值的准确性,使之适合用于集成电路测试系统的检定、校准以及比对。最后给出了标准样片的不确定度评定和测量数据。
14-16

半导体分析仪微小电流校准方法研究

摘要:半导体分析仪作为目前半导体器件I-V特性曲线的最重要测量仪器,其微小电流低至pA量级,准确度至1%,采用常规直接测量方法无法实现,论文在研究校准方案的基础上,利用"加压测流法"对GΩ量级高值电阻器进行标定,设计与其配套的无源低电流适配器,巧妙利用Guard技术实现对pA、nA量级微小电流的校准。采用"传递比较法"与上级机构对1pA~10nA的微小电流进行验证,试验数据验证了论文校准方案的正确性。论文技术成果已经应用于半导体工艺线源表类测试系统的校准中,值得借鉴推广。
17-20

单片电路晶体管模型参数提取专用TRL校准件

摘要:为了满足GaAs微波单片晶体管模型参数精确提取需求,论文开展了在GaAs衬底上制作专用TRL校准件的研究工作,该专用校准件在设计过程中,综合考虑了介质材料、测量端口探针至微带线过渡等要素,使校准后在片S参数测量的参考平面更加接近晶体管管芯,从而获得了微波单片晶体管真正管芯模型参数。为了对校准效果进行验证,制作了在片无源检验件,通过测量结果与电磁场仿真数值的对比,证实了该专用校准件满足模型参数提取的测量要求。
21-23

基于MCM噪声参数测量不确定度评定的方法研究

摘要:开展了基于蒙特卡洛法(MCM)的噪声参数测量不确定度评定工作,以等效噪声参数方程作为不确定度评定的测量模型,利用从测量系统获得的物理量求解函数方程,得到反映等效噪声参数分布情况的数据,并从等效噪声参数导出噪声参数及其概率分布,最后得到噪声参数测量的不确定度。该方法有效地结合了数学随机仿真、物理测量边界判据,实现了噪声参数测量结果的不确定度评定,该方法符合国际标准,可应用的测量系统种类多,普适性高。最后通过实验数据验证,证明了评定方法的有效性,不确定度评定数据的真实性和可靠性。
24-28

集成电路测试系统总定时精度自动校准程序设计

摘要:在高速集成电路测试应用中,当集成电路测试系统驱动或测量某一信号时,其驱动沿或比较沿与预期时间产生1ns的偏差都将导致整个测试时序严重偏离,使测试结果失去意义。系统总定时精度(OTA)就是反映测试系统提供的信号驱动或比较沿是否在预期的时间范围内,各信号之间的相对时间是否准确的关键时间参量,必须进行校准保证其溯源性。论文以V93000集成电路测试系统为例,介绍了集成电路测试系统总定时精度自动校准程序的设计方法。
29-31

集成电路测试系统的竞争冒险

摘要:在集成电路测试领域,因客观存在的通道传输延迟而导致集成电路测试系统对交流参数测量准确度降低是不可避免的。尽管时域反射技术的应用在一定程度上解决了这一问题,但是仍然无法完全解决传输延迟所带来的所有问题。论文以泰瑞达J750EX集成电路测试系统为平台,通过实验证实数字通道在传输延迟修正后存在逻辑异常的现象,并分析其发生的原因。
32-35

一种集成电路测试系统在线计量方法研究

摘要:论文介绍了一种通过对集成电路测试系统芯片测试过程中的电气参数进行测量的方式分析得到集成电路测试系统的指标准确度,从而实现对集成电路测试系统进行在线计量。该方法反映了集成电路测试系统测试过程中的实际工作状况,其计量结果具有更高的可信度,同时具有更好的计量效率。
36-38

基于SOLT校准技术的S参数测量不确定度评定

摘要:目前,常用的S参数测量不确定度评定方法中均未考虑S参数相关性的问题,论文给出了一种2GHz~18GHz频率范围内S参数测量不确定度的评定方法,该方法从校准件的定义出发,基于SOLT校准技术对矢量网络分析仪进行自校准,将校准件引入的不确定度通过矢量网络分析仪传递给被测件(DUT),通过使用蒙特卡洛仿真的方法(MCM)得到矢量网络分析仪测量DUT S参数的测量不确定度,评定过程中考虑了相关性问题,提高了S参数测量不确定度的可靠性和合理性。
39-43

皮安纳安级直流电流高精度的校准方法

摘要:针对目前市场上采用无源适配器校准皮安纳安级直流电流存在精度不高、适用范围有限的问题,论文提出了一种精度高、适用范围广的校准方法,该方法通过研制皮安纳安级有源直流电流适配器和建立高值电阻电压精确提取模型,利用欧姆定律计算得到电流标准值。实验结果表明,该方法使用方便、简单,适用于绝大多数皮安纳安级直流输出,可满足市场上准确度较高的皮纳安级直流电流校准要求。
44-46

在片矢量网络分析仪测试系统量值比对方案的探讨

摘要:目前国内尚未建立在片矢量网络分析仪测试系统的有效溯源途径,随着微电子行业的高速发展,在片模式下测量的散射参数的计量问题急需解决。为达到量值一致、可靠的目的,论文针对在片矢量网络分析仪测试系统提出了量值比对方案,提出采用失配衰减单片作为传递标准。对比对结果的数据统计方法进行了探讨,同时采用两种统计方法进行离群值剔除,采用各实验室测量值的算术平均值作为参考值,推导出这种情况下比对结果的归一化偏差En值。
47-50

直流稳定电源的半自动校准系统

摘要:直流稳定电源广泛、大量的应用于科研生产各个领域,而大量直流电源由于没有配置程控接口无法实现自动校准,给仪器计量工作带来了较大的压力。论文介绍了一种基于VBA开发平台的直流稳定电源半自动校准系统,对系统的硬件组成结构、工作原理及软件流程进行了论述。方案设计合理,界面直观,操作便捷,在试用中取得了良好的效果,显著提高了工作效率,工作时间缩短了30%。该方案具有良好的可扩展性,对于其他类似的半自动校准系统具有很好的借鉴意义。
51-53

对BC3193测试系统测量不确定度的评定

摘要:论文通过对测量不确定度的介绍,并以光电耦合器测试系统BC3193为例,分析总结了对测试系统进行不确定度评定的方法。文中提出的不确定评定方法在对其他测试系统的不确定度评定也具有很好的参考意义。
54-58
计算机与数字工程杂志测试原理与技术

一种用于FPGA连线资源测试的配置方法

摘要:FPGA在实际应用中,故障发生于互连资源的概率远大于逻辑功能块其他故障概率,因而FPGA连线资源测试成为保证其在航空航天等领域高可靠性应用的极为重要的手段,对FPGA连线资源进行测试,首先要根据所要测的资源来配置电路。传统的基于HDL的配置方法存在待测资源不可控的问题,论文以Xilinx公司Spartan-3系列FPGA连线资源为研究对象,提出了一种基于XDL的FPGA配置方法,并采用BIST测试结构,通过C++代码方式生成XDL程序,实现对FPGA有CLB的行列双长线资源、有CLB的行列智能型长线资源、无CLB的行列双长线资源及无CLB行列智能型长线资源的测试,为其它测试配置电路结构的设计及其xdl程序编写奠定了基础。
59-64

FPGA可编程逻辑单元测试方法研究

摘要:FPGA是广泛应用于集成电路设计,片上系统等多领域,随着FPGA的广泛应用,对其可靠性的要求也越来越高,由于其结构和功能复杂,其测试难度和成本也随之增加。文章简要介绍了SRAM型FPGA的逻辑单元(LE)的结构,提出了一种基于扫描链的逻辑资源遍历测试方法。以Altera公司FPGA为例,简述了在超大规模集成电路测试系统CATT-400上实现FPGA在线配置和功能测试方法。
65-69