并发缺陷检测技术研究进展

作者:薄莉莉; 姜淑娟; 张艳梅; 王兴亚; 于巧

摘要:多核时代的到来使得并发程序的设计备受人们关注.然而,并发程序的并发性和不确定性容易引发并发缺陷.因此,快速且有效地检测出这些并发缺陷尤为重要.首先,将目前常见的并发缺陷分为五大类(并发类型状态缺陷、死锁、数据竞争、原子性违背和顺序违背);随后,从软件运行的角度,将现有的并发缺陷检测技术分为静态分析、动态分析和动静结合分析,并对每一类进行详细的分析、比较和总结;接着,对并发缺陷检测技术的通用性进行分析和总结;最后,从通用准确的并发缺陷检测、软硬件相结合的并发缺陷检测、并发缺陷检测修复一体化、适用于松散内存模型的并发缺陷检测、安卓等其他应用平台的并发缺陷检测和分布式系统非确定性并发缺陷研究等方面,对并发缺陷检测技术的未来研究进行了探讨.

分类:
  • 期刊
  • >
  • 自然科学与工程技术
  • >
  • 信息科技
  • >
  • 电子信息科学综合
收录:
  • 维普收录(中)
  • 北大期刊(中国人文社会科学期刊)
  • JST 日本科学技术振兴机构数据库(日)
  • 上海图书馆馆藏
  • 剑桥科学文摘
  • 哥白尼索引(波兰)
  • CSCD 中国科学引文数据库来源期刊(含扩展版)
  • 国家图书馆馆藏
  • 知网收录(中)
  • 万方收录(中)
  • 统计源期刊(中国科技论文优秀期刊)
关键词:
  • 并发程序
  • 并发缺陷
  • 缺陷检测
  • 软件测试

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

期刊名称:计算机科学

期刊级别:北大期刊

期刊人气:20390

杂志介绍:
主管单位:国家科学技术部
主办单位:国家科技部西南信息中心
出版地方:重庆
快捷分类:计算机
国际刊号:1002-137X
国内刊号:50-1075/TP
邮发代号:78-68
创刊时间:1974
发行周期:月刊
期刊开本:A4
下单时间:1-3个月
复合影响因子:0.94
综合影响因子:1.6