是德科技率先适合当代半导体功率器件开发的关键参数表征解决方案——提供CiSS、Coss、Crss、栅极电荷/栅极电阻测量和自动热测试

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摘要:是德科技公司(NYSE:KEYS)日前宣布旗下B1505A功率器件分析仪/曲线追踪仪重要增强,成为业界首个支持晶圆上和封装器件所有关键参数表征的解决方案,能够提升当代半导体功率器件开发效率。

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关键词:
  • 半导体功率器件
  • 参数表征
  • 开发效率
  • 栅极电荷
  • 电阻测量
  • 科技
  • 热测试
  • 封装器件

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

期刊名称:计算机测量与控制

期刊级别:统计源期刊

期刊人气:11092

杂志介绍:
主管单位:中国航天科工集团公司
主办单位:中国计算机自动测量与控制技术协会
出版地方:北京
快捷分类:计算机
国际刊号:1671-4598
国内刊号:11-4762/TP
邮发代号:82-16
创刊时间:1993
发行周期:月刊
期刊开本:A4
下单时间:1-3个月
复合影响因子:0.55
综合影响因子:1