SIFT算法与折半查找法在产品表面缺陷检测中的应用

作者:徐青 韩跃平 杨志刚

摘要:为民准确快速实现对产品结构质量的全方位完整检测,首先采用SIFT算法与折聱查找法确定任意角度拍摄的待检产品在标准网像库中最优位置信息,其次根据先验知识将其转到待识别区域所在角度利用投影法分割出感兴趣区域,最后通过减影法及相关度计算判别有无缺陷;实验表明在保证枪测准确率的前提下,文章所用匹配方法比传统全周向同定步长方法平均可节省2.08s。

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关键词:
  • 缺陷检测
  • sift算法
  • 杠查找法
  • 区域分割
  • 减影法

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期刊名称:计算机测量与控制

期刊级别:统计源期刊

期刊人气:11074

杂志介绍:
主管单位:中国航天科工集团公司
主办单位:中国计算机自动测量与控制技术协会
出版地方:北京
快捷分类:计算机
国际刊号:1671-4598
国内刊号:11-4762/TP
邮发代号:82-16
创刊时间:1993
发行周期:月刊
期刊开本:A4
下单时间:1-3个月
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综合影响因子:1