基于IEEE1149.4的模拟集成电路性能测试技术研究

作者:葛勇 薛冰

摘要:针对模拟集成电路内建自测试困难和故障诊断约束条件复杂的问题,设计了基于IEEE1149.4边界扫描标准的模拟集成电路性能测试系统;该方案扩展了标准中的模拟边界扫描模块和测试总线电路,并由控制器内部向被测电路施加激励,通过充分利用电路系统中已有数模混合资源,在添加极少的电路元件的基础上,实现了基于FPGA的模拟集成电路性能测试系统;实验选取集成滤波芯片MAX292被测电路测试,其频率特性的测试结果误差均小于5%,表明了该测试方案的正确性、系统测试的有效性和通用性。

分类:
  • 期刊
  • >
  • 自然科学与工程技术
  • >
  • 信息科技
  • >
  • 自动化技术
收录:
  • SA 科学文摘(英)
  • 剑桥科学文摘
  • 国家图书馆馆藏
  • 上海图书馆馆藏
  • 知网收录(中)
  • 维普收录(中)
  • 万方收录(中)
  • 统计源期刊(中国科技论文优秀期刊)
关键词:
  • 模拟集成电路
  • 可测性设计
  • 功能测试
  • ieee1149
  • 4

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

期刊名称:计算机测量与控制

期刊级别:统计源期刊

期刊人气:10981

杂志介绍:
主管单位:中国航天科工集团公司
主办单位:中国计算机自动测量与控制技术协会
出版地方:北京
快捷分类:计算机
国际刊号:1671-4598
国内刊号:11-4762/TP
邮发代号:82-16
创刊时间:1993
发行周期:月刊
期刊开本:A4
下单时间:1-3个月
复合影响因子:0.55
综合影响因子:1