摘要:针对模拟集成电路内建自测试困难和故障诊断约束条件复杂的问题,设计了基于IEEE1149.4边界扫描标准的模拟集成电路性能测试系统;该方案扩展了标准中的模拟边界扫描模块和测试总线电路,并由控制器内部向被测电路施加激励,通过充分利用电路系统中已有数模混合资源,在添加极少的电路元件的基础上,实现了基于FPGA的模拟集成电路性能测试系统;实验选取集成滤波芯片MAX292被测电路测试,其频率特性的测试结果误差均小于5%,表明了该测试方案的正确性、系统测试的有效性和通用性。
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