摘要：近年来，随着信息化装备复杂度的增加和现场级快速测试诊断需求的增加，迫切需要基于边界扫描的BIST技术；在这种应用模式中，基于边界扫描的BIST技术能解决现场级快速测试诊断需求；存储器在板级模块上经常使用，其BIST是板级BIST的重要组成部分；文章紧密联系应用需求，并以工程应用作为参考目标，提出了一种易于实现的基于两级移位“1”算法的SRAM簇测试算法，该算法在保证测试安全的前提下能够实现所有可检测故障的100％覆盖，并给出了基于该测试算法的SRAM簇测试BIST架构。