泛华测控2010汽车电子测试技术研讨会长春站即将启动

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摘要:7月8日,由北京中科泛华测控技术有限公司主办的2010汽车电子测试技术研讨会上海站圆满落幕。此次研讨会共分四站,分别于武汉(6月10日)、重庆(6月24日)、上海(7月8日)、长春(7月15日)四地举办。从行业分布来看,此次研讨会有涉及电子、仪器仪表、汽车整车制造和零配件生产制造商等多行业的企业参与。其中东风一本田、法国D2t、固特菲斯电子、华中科技大学、神龙汽车有限公司、武汉大学等业内知名企业及相关院校都参加了此次活动。

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关键词:
  • 神龙汽车有限公司
  • 技术研讨会
  • 电子测试
  • 测控技术
  • 长春站
  • 生产制造商
  • 华中科技大学
  • 行业分布

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期刊名称:计算机测量与控制

期刊级别:统计源期刊

期刊人气:11087

杂志介绍:
主管单位:中国航天科工集团公司
主办单位:中国计算机自动测量与控制技术协会
出版地方:北京
快捷分类:计算机
国际刊号:1671-4598
国内刊号:11-4762/TP
邮发代号:82-16
创刊时间:1993
发行周期:月刊
期刊开本:A4
下单时间:1-3个月
复合影响因子:0.55
综合影响因子:1