摘要：为实现自动测试系统高效率和低成本，对并行自动测试系统的硬件结构进行了研究，提出了单处理器架构方式下的并行自动测试系统硬件结构，并具体对测试控制器、接口总线、仪器资源以及开关系统等各硬件模块的特点进行了研究，通过分析它们对并行测试的支持，明确了并行自动测试系统设计中的关键技术，可指导系统的实际开发。