基于FPGA的板级BIST设计和实现策略
作者：杜影 赵文彦 安佰岳
摘要：为解决复杂电路板的测试问题,边界扫描、内建自测试等可测性设计技术相继发展,针对目前板级可测性设计发展状况,提出了基于FPGA的板级BIST设计策略;通过阐述存储器模块、逻辑模块和模拟模块三大部分的BIST设计,说明了基于FPGA进行板级模块BIST设计的灵活性和优势;最后,给出了在FPGA内构建BIST控制器的方法,并介绍了FPGA自测试的实现以及在板级设计过程中要考虑的问题。
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关键词：
- bist
- 可测性
- dft
- fpga
- 控制器
- 边界扫描
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