高性能比特误码率测试仪助力400G接收机测试

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摘要:M8040A高性能比特误码率测试仪(BERT)解决方案推出功能更强大的创新选件,用于测试高达64GBaud的PAM-4和NRZ器件。为实现新兴的400G数据中心互连,验证工程师和研发工程师需要对接收机进行物理层表征。简化的测试设置,准确且可重复的结果,将使工程师受益匪浅。

分类:
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  • 无线电电子学
收录:
  • 国家图书馆馆藏
  • 上海图书馆馆藏
  • 知网收录(中)
  • 万方收录(中)
  • 维普收录(中)
关键词:
  • 比特误码率
  • 测试仪
  • 接收机
  • 性能
  • 工程师
  • 数据中心
  • nrz
  • 物理层

注:因版权方要求,不能公开全文,如需全文,请咨询杂志社

期刊名称:今日电子

期刊级别:部级期刊

期刊人气:2887

杂志介绍:
主管单位:信息产业部
主办单位:中国电子工业出版社;美国国际数据集团(IDG)
出版地方:北京
快捷分类:电子
国际刊号:1004-9606
国内刊号:11-3227/TN
邮发代号:82-518
创刊时间:1993
发行周期:月刊
期刊开本:A4
下单时间:1个月内
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