片式ZnO压敏电阻器印叠工艺对通流容量的影响
作者:曾祥明; 张明; 赵根妹; 林伟时; 康雪雅
摘要:通过印叠工序中,内电极烘干温度与烘干时间的试验,研究了它们对片式ZnO压敏电阻器通流容量的影响.结果表明:烘干温度与烘干时间分别为70℃与2~4 h时,产品的通流容量最大.
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关键词:
- 片式氧化锌压敏电阻器
- 内电极的烘干温度
- 内电极的烘干时间
- 通流容量
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