去耦电容量化设计研究

作者:穆远祥

摘要:对于硬件电路设计,一般认为PDN(Power Distribution Network)上添加的去耦电容越多则电源质量越好,因此器件厂商一般也会要求在器件电源引脚添加很多去耦电容,导致去耦电容过设计现象比较严重,过量使用去耦电容会带来无意义的成本开销、布局布线困难、单板生产直通率低等问题。针对此问题,本文对业界的去耦电容量化方法进行总结研究,并对其去耦设计工具进行个性化改进设计,总结出一套去耦电容设计方法,为去耦电容设计提供参考。

分类:
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收录:
  • 万方收录(中)
  • 上海图书馆馆藏
  • 国家图书馆馆藏
  • 知网收录(中)
  • 维普收录(中)
  • CA 化学文摘(美)
关键词:
  • 电源质量
  • 去耦电容
  • 量化设计
  • 设计工具
  • 布局布线
  • 量化方法

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期刊名称:电子世界

期刊级别:部级期刊

期刊人气:24431

杂志介绍:
主管单位:中国科学技术协会
主办单位:中国电子学会;中电新一代(北京)信息技术研究院
出版地方:北京
快捷分类:电子
国际刊号:1003-0522
国内刊号:11-2086/TN
邮发代号:2-892
创刊时间:1979
发行周期:半月刊
期刊开本:A4
下单时间:1-3个月
复合影响因子:0.47