Bi系铜氧化物射频介电性质的研究
作者:冯双久 张显良 倪江利
摘要:测量了不同离子掺杂Bi2Sr2CaCu2y多晶样品的射频介电常数,发现样品的介电常数存在明显差别,分析认为这是由于离子掺杂改变了材料中的载流子浓度,导致材料的空间电荷极化差异所引起的。基于这种机制,成功解释了不掺杂样品在1700MHz附近的弛豫现象和不同样品损耗性质的差异。
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关键词:
- 电工材料
- 介电性质
- bi系铜氧化物
- 空间电荷极化
- 损耗角正切
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