集成电路可靠性评估方法

作者:彭景; 霍琳; 宋媛媛; 曹艳芳; 唐熔灿

摘要:本文旨在对集成电路类电子产品进行可靠性评估方法研究,主要分析研究集成电路工作原理及其可靠性评估方法。对仿真数据进行拟合优度检验,分析并指出集成电路这一类电子产品可靠性失效特点,利用指数分布和威布尔分布下的区间估计评估方法进行参数估计并验证其可行性。

分类:
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  • 自然科学与工程技术
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  • 工程科技I
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  • 安全科学与灾害防治
收录:
  • 上海图书馆馆藏
  • 国家图书馆馆藏
  • 万方收录(中)
  • 知网收录(中)
  • 维普收录(中)
关键词:
  • 集成电路
  • 可靠性评估
  • 指数分布
  • 区间估计

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期刊名称:安全

期刊级别:部级期刊

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杂志介绍:
主管单位:北京科学技术研究院
主办单位:中国职业安全健康协会;北京市劳动保护科学研究所
出版地方:北京
快捷分类:环境
国际刊号:1002-3631
国内刊号:11-2411/X
邮发代号:82-976
创刊时间:1980
发行周期:月刊
期刊开本:A4
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